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  • 華測-高壓漏電起痕測試儀器
    華測-高壓漏電起痕測試儀器

    更新時(shí)間:2024-12-19

    型號:

    瀏覽量:3499

    華測-高壓漏電起痕測試儀器配合電壓、電流傳感器、高壓真空斷路開關(guān)、高壓交直流變壓器元件構(gòu)成。高壓漏電起痕試驗(yàn)是在工頻電壓下,通過液體污染和傾斜試樣評定,在環(huán)境條件下使用的電氣絕緣材料耐漏電起痕和耐電蝕損。其評定的方法有兩種,即恒定漏電起痕電壓法和逐級升壓漏電起痕電壓法。
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  • HCDH-3華測高壓漏電起痕測試儀CTI/PTI
    HCDH-3華測高壓漏電起痕測試儀CTI/PTI

    更新時(shí)間:2024-12-19

    型號:HCDH-3

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    華測高壓漏電起痕測試儀,是指在固體絕緣材料表面,在電場和電解液的聯(lián)合作用下逐漸形成導(dǎo)電通路的過程。這個(gè)過程被稱為漏電起痕,而絕緣材料表面抗漏電起痕的能力則稱為耐漏電起痕。漏電起痕試驗(yàn)是評估絕緣材料在特定條件下的耐漏電性能的一種方法,通過模擬在潮濕或污染介質(zhì)聯(lián)合作用下的環(huán)境,測定材料的相比漏電起痕指數(shù)(CTI)和耐電痕化指數(shù)(PTI)。華測高壓漏電起痕測試儀CTI/PTI
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  • HCLD-3漏電起痕試驗(yàn)儀
    HCLD-3漏電起痕試驗(yàn)儀

    更新時(shí)間:2024-08-29

    型號:HCLD-3

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    華測儀器-低壓漏電起痕試驗(yàn)儀是按IEC60695、GB4207/IEC60112等標(biāo)準(zhǔn)要求設(shè)計(jì)制造的試驗(yàn)儀器。適用于固體絕緣材料在潮濕條件下相比漏電起痕指數(shù)和耐漏電起痕指數(shù)的測定,具有簡便、準(zhǔn)確、可靠、實(shí)用等特點(diǎn)。
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  • HCDH-300低壓漏電起痕測試儀器
    HCDH-300低壓漏電起痕測試儀器

    更新時(shí)間:2024-08-26

    型號:HCDH-300

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    低壓漏電起痕測試儀器(電痕化指數(shù)試驗(yàn))是在固體絕緣材料表面上,在規(guī)定尺寸 ( 2mm × 5mm ) 的鉑電極之間,施加某一電壓并定時(shí) (30s) 定高度 ( 35mm ) 滴下規(guī)定液滴體積的導(dǎo)電液體 (0.1%NH 4 CL) ,用以評價(jià)固體絕緣材料表面在電場和潮濕或污染介質(zhì)聯(lián)合作用下的耐漏電,測定其相比電痕化指數(shù) (CT1) 和耐電痕化指數(shù)(PT1) 。
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  • HCDH-200華測固體絕緣材料耐電痕化指數(shù)測試儀
    HCDH-200華測固體絕緣材料耐電痕化指數(shù)測試儀

    更新時(shí)間:2024-06-04

    型號:HCDH-200

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    華測固體絕緣材料耐電痕化指數(shù)測試儀,主要是模擬家用電器產(chǎn)品在實(shí)際使用中不同極性帶電部件在絕緣材料表面沉積的導(dǎo)電物質(zhì)是否引起絕緣材料現(xiàn)在爬電、擊穿短路和起火危險(xiǎn)。電氣產(chǎn)品在使用過程中,由于環(huán)境的污染導(dǎo)致絕緣材料表面有污物、潮氣而產(chǎn)生的漏電,因此誘發(fā)的腐蝕而損壞絕緣。
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  • HCDH-200北京華測耐電痕化指數(shù)測試儀器
    HCDH-200北京華測耐電痕化指數(shù)測試儀器

    更新時(shí)間:2024-06-08

    型號:HCDH-200

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    北京華測耐電痕化指數(shù)測試儀器主要是模擬家用電器產(chǎn)品在實(shí)際使用中不同極性帶電部件在絕緣材料表面沉積的導(dǎo)電物質(zhì)是否引起絕緣材料現(xiàn)在爬電、擊穿短路和起火危險(xiǎn)。電氣產(chǎn)品在使用過程中,由于環(huán)境的污染導(dǎo)致絕緣材料表面有污物、潮氣而產(chǎn)生的漏電,因此誘發(fā)的腐蝕而損壞絕緣。
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  • HCDH-200耐電痕化指數(shù)測試儀器
    HCDH-200耐電痕化指數(shù)測試儀器

    更新時(shí)間:2023-08-29

    型號:HCDH-200

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    耐電痕化指數(shù)測試儀器主要是模擬家用電器產(chǎn)品在實(shí)際使用中不同極性帶電部件在絕緣材料表面沉積的導(dǎo)電物質(zhì)是否引起絕緣材料現(xiàn)在爬電、擊穿短路和起火危險(xiǎn)。電氣產(chǎn)品在使用過程中,由于環(huán)境的污染導(dǎo)致絕緣材料表面有污物、潮氣而產(chǎn)生的漏電,因此誘發(fā)的腐蝕而損壞絕緣。
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  • HCDH-200北京華測*耐電痕化指數(shù)測試儀器
    HCDH-200北京華測*耐電痕化指數(shù)測試儀器

    更新時(shí)間:2023-08-29

    型號:HCDH-200

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    北京華測*耐電痕化指數(shù)儀(電痕化指數(shù)試驗(yàn))是在固體絕緣材料表面上,在規(guī)定尺寸 ( 2mm × 5mm ) 的鉑電極之間,施加某一電壓并定時(shí) (30s) 定高度 ( 35mm ) 滴下規(guī)定液滴體積的導(dǎo)電液體 (0.1%NH 4 CL) ,用以評價(jià)固體絕緣材料表面在電場和潮濕或污染介質(zhì)聯(lián)合作用下的耐漏電,測定其相比電痕化指數(shù) (CT1) 和耐電痕化指數(shù)(PT1) 。北京華測*耐電痕化指數(shù)測試儀器
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